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中溫法向輻射率測量裝置 實驗目的 利用比較法測試固體表面法向輻射時的物體黑度：通過對三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導體二組），使熱源和傳導體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測”（受體為待測物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時間接受熱輻射，測出受到輻射后的溫度，再按公式計算出待測物體的黑度。
中溫法向輻射率測量儀裝置 實驗目的 利用比較法測試固體表面法向輻射時的物體黑度：通過對三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導體二組），使熱源和傳導體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測”（受體為待測物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時間接受熱輻射，測出受到輻射后的溫度，再按公式計算出待測物體的黑度。
中溫法向輻射率測量設(shè)備 實驗目的 利用比較法測試固體表面法向輻射時的物體黑度：通過對三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導體二組），使熱源和傳導體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測”（受體為待測物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時間接受熱輻射，測出受到輻射后的溫度，再按公式計算出待測物體的黑度。
中溫法向輻射率測量儀器實驗目的 利用比較法測試固體表面法向輻射時的物體黑度：通過對三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導體二組），使熱源和傳導體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測”（受體為待測物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時間接受熱輻射，測出受到輻射后的溫度，再按公式計算出待測物體的黑度。
中溫法向輻射率測量儀實驗目的 利用比較法測試固體表面法向輻射時的物體黑度：通過對三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導體二組），使熱源和傳導體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測”（受體為待測物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時間接受熱輻射，測出受到輻射后的溫度，再按公式計算出待測物體的黑度。
中溫法向輻射率測量儀設(shè)備實驗目的 利用比較法測試固體表面法向輻射時的物體黑度：通過對三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導體二組），使熱源和傳導體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測”（受體為待測物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時間接受熱輻射，測出受到輻射后的溫度，再按公式計算出待測物體的黑度。
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